
一部手机的品质,不仅取决于屏幕显示效果和硬件性能,也藏在屏幕与中框之间的装配细节里。
屏幕与中框之间的间隙如果过大或分布不均,可能影响整机密封性能,增加进水风险,也可能造成屏幕贴合不良、触控异常等问题。如何快速、准确地识别微小间隙,避免装配偏差流入后续工序,成为产线质量管控中的重要问题。
手机屏幕与中框的装配涉及玻璃、金属等不同材质,结构紧密,检测位置细小。传统检测方式在实际应用中容易面临以下挑战:
•间隙微小,检测难度高:间隙在亚微米到数十微米量级,且屏幕边缘存在倒角、点胶层与反光,常规光学手段容易把间隙和边缘轮廓混在一起,导致读数漂移。
•材质多样,检测适应性要求高:玻璃、金属等材料在光学特性上存在差异,对检测方式的适应能力提出更高要求。
•产线节拍快,检测效率待提升:依赖人工或低效率检测方式,难以满足自动化产线连续、快速检测的需求。

SCI系列光谱共焦位移传感器
实现非接触式测量
在检测时,光谱共焦位移传感器可围绕屏幕与中框的关键装配点位采集位移数据,并以中框基准面或设计基准进行标定,通过比较屏幕表面与基准面之间的位移差,评估间隙大小及分布均匀性。
01 ±0.2 μm线性度,捕捉微小变化
光谱共焦位移传感器具备±0.2μm线性度,可对微小位移变化进行精密测量,为屏幕与中框的间隙尺寸检测提供可靠数据依据,帮助及时识别装配偏差。
02 多材质兼容,适应复杂检测对象
玻璃/金属/陶瓷/塑料材料及反光表面亦同步检测,以非接触式测量方式减少接触式检测可能带来的划伤。
03 快速响应,适配自动化产线
可对接自动化检测流程,减少人工复检与二次确认环节。在保证检测精度的同时提升检测效率,助力生产线实现更高效的质量管控。
在透明材料与复杂曲面工件上,该传感器同样适用:

•透明玻璃厚度检测:如手机盖板、玻璃面板等透明材料的厚度测量。
•透明薄膜检测:如光学薄膜、透明保护膜等材料的厚度与尺寸检测。
•曲面玻璃检测:如汽车中控屏等工件的高度变化测量。
•精密曲面零件检测:如具有弧面、斜面结构的精密零部件表面高度与厚度测量。











